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集成電路芯片機器視覺檢測技術研究

發(fā)布時間：2009/3/30 11:54:00

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提供者：中國傳動網(wǎng)

【集成電路芯片機器視覺檢測技術研究】

資料介紹
針對芯片制造后道工序的需求，擬開發(fā)基于精密圖像光學檢測的IC全自動分檢機以提高IC芯片的合格率和降低檢測時間，本項目設備的研制，對實現(xiàn)半導體生產(chǎn)專用設備的國產(chǎn)化，縮短與世界先進水平的差距有著重要的意義，研制的IC全自動分檢機將會具有廣闊的市場前景和較大的社會效益。[

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