產(chǎn)品頻道

      產(chǎn)品介紹：

　　超高速/高精度CMOS激光位移傳感器

　　•超快的速度:392kHz

　　•超高的精度:±0.02%

　　•超高的重復(fù)性:0.005μm

　　•全新開發(fā)的“ABLEII”控制

　　•全新中等距離傳感器頭:

　　LK-H008/008W/80/82/85/87/150/152/155/157

　　激光位移傳感器必須同時(shí)具備速度，精度和卓越性能，以便勝任所有應(yīng)用。LK-G5000采用了國際頂尖技術(shù)，力爭在各個(gè)方面都做到世界最佳。

　　產(chǎn)品特性

　　精確測量所有目標(biāo)物

　　小型感測頭集成了高新技術(shù)，成為“業(yè)界最佳”。

　　[全新開發(fā)]ABLEIIACTIVEBALANCEDLASERCONTROLENGINE(動態(tài)平衡激光控制引擎)

      目標(biāo)物將激光強(qiáng)度自動調(diào)整到最佳狀態(tài)

　　如今，構(gòu)建良好的ABLE控制更加強(qiáng)勁。ABLEII通過平衡激光發(fā)射時(shí)間、激光功率和增益這三種要素，能夠智能優(yōu)化RS-CMOS功能。此外，ABLEII具備高速的追蹤能力，比常規(guī)型號要快八倍。

　　[全新開發(fā)]RS-CMOSR=HIGH-RESOLUTION(高重復(fù)精度)S=HIGH-SPEED(高速)

　　LK-G5000系列專用的超高再現(xiàn)性/高速CMOS傳感器

　　“高速”和“高重復(fù)精度”同時(shí)實(shí)現(xiàn)。雙端口數(shù)據(jù)傳輸功能能夠以更高的速度傳輸更高像素的數(shù)據(jù)，從而使重復(fù)精度翻倍。使用四倍速度還能實(shí)現(xiàn)更高速的傳輸。此外，使用全新開發(fā)的HDE*物鏡，可以擁有高度定義的接收光波形和雙倍的像素重復(fù)精度。因此，KEYENCE實(shí)現(xiàn)了高精度和高再現(xiàn)性，具備勝任高難度應(yīng)用的能力。

　　*HDE物鏡=高精度Ernostar物鏡

　　穩(wěn)定測量粗糙物體

　　在粗糙物體上進(jìn)行穩(wěn)定的測量

　　關(guān)于本產(chǎn)品的詳細(xì)內(nèi)容，請使用右上方的圖標(biāo)下載目錄后確認(rèn)。

　　寬光點(diǎn)型

　　看上去平整的表面在放大后就會發(fā)現(xiàn)有一些細(xì)微的凹凸不平。在使用常規(guī)聚焦光點(diǎn)型傳感器時(shí)，這些細(xì)微的表面不平時(shí)常會造成測量錯(cuò)誤。通過使用寬光點(diǎn)的感測頭，就可以均化表面不平整的影響，即使在粗糙物體上也能實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測量。

　　光點(diǎn)直徑

　　金屬表面的測量

　　最大限度地減少粗糙表面的不平整所造成的影響，例如拉絲金屬表面和橡膠表面等。以往前所未有的測量精確度現(xiàn)在已成為現(xiàn)實(shí)。

　　得益于LK-G5000系列中使用的高級圓柱形物鏡，整個(gè)測量范圍內(nèi)的光點(diǎn)寬度始終保持一致。這樣即使目標(biāo)距離感測頭過近或過遠(yuǎn)，平分面積始終不變。

　　精確測量精細(xì)物體和輪廓

　　最適合精細(xì)或輪廓測量

　　聚焦光點(diǎn)型

　　同類中最小的光點(diǎn)直徑，ø25μm（LK-H020），可測量從精細(xì)部件到輪廓的任何目標(biāo)物，精確度達(dá)到行業(yè)最高水準(zhǔn)。

　　光點(diǎn)直徑

　　測量IC陣腳高度

　　得益于deltacut技術(shù)，濾光片導(dǎo)致的畸變被降至最低。這些對光學(xué)系統(tǒng)的改進(jìn)意味著光點(diǎn)不僅在RS-CMOS上聚焦，在目標(biāo)區(qū)域中同樣精確聚焦。這樣就能實(shí)現(xiàn)之前無法完成的高精度輪廓測量。

　　高精度測量透明/鏡面物體

　　透明/鏡面表面測量結(jié)果展示

　　鏡面反射型

　　LK-G5000系列包含一組感測頭，專為玻璃或其他鏡面等高反射物體而設(shè)計(jì)。感測頭包含寬光點(diǎn)和聚焦光點(diǎn)兩種等類型，最適合在這些表面上進(jìn)行高精度測量。感測頭包含寬光點(diǎn)和聚焦光點(diǎn)兩種等類型，最適合在這些表面上進(jìn)行高精度測量。

　　光點(diǎn)直徑(寬光點(diǎn)型)

　　光點(diǎn)直徑(聚焦光點(diǎn)型)

　　測量觸摸屏的縫隙

　　這些專用感測頭中的光學(xué)系統(tǒng)已經(jīng)過優(yōu)化，可在高反射率的鏡面物體上獲得最大分辨率。通過進(jìn)一步改進(jìn)接收光元件的功能性，現(xiàn)在可穩(wěn)定測量20μm的縫隙。